第三代
            半導體測試家族
            Third generation semiconductor testing family
            首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 功率器件測試系統(tǒng)
            分類
             
            QT-4100 綜合測試系統(tǒng)

            適用於三極管、二極體、齊納二極體、MOS-FET(IGBT、SIC 氮化鎵)、J-FET、Current Sense FET、LDO(78XX、79XX、TL431、TL432常規(guī)測試)、光電耦合器等產(chǎn)品及晶 圓。 可擴充:可控矽測試、SCANBOX、Dual Gate-FET、Q Plus 、三極管開關(guān)時間(TST, TR ,TF, TON)、熱阻測試(DVDS, DVCE, DVBE,DVF)等



            限壓限流

            高精度Rdon測試

            模組化功能

            多站資料合併

            型號 QT-4100 綜合測試系統(tǒng)
            產(chǎn)品優(yōu)勢 測量防呆:電壓、電流測量自動自檢,異常自動報警停機測量防呆:電壓、電流測量自動自我檢測,異常自動警報停機
            LOW RDON
            快速自我檢測:無需外接負載,2分鐘完成自我檢測
            第三人校準:採用Agilent 34401A進行校準
            內(nèi)建示波器功能
            支援多工位設(shè)備數(shù)據(jù)合併
            主要特點 ? 繼電器3ms;
            ? 限壓限流保護;
            ? 支援擴展EAS,LCR,熱阻,SW,TRR,QG;
            ? 填表式程式設(shè)計;
            ? 支援PAT功能;
            ? 具備SECS/GEM標準介面


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