第三代
            半導體測試家族
            Third generation semiconductor testing family
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            分類
            QT-3107 LCR RG/CG 測試

            自研LCR數(shù)字電橋,支持Mosfet RG/CG測試,也可以用于測試二極管的電容測試,分辨率1fF



            支持雙DIE

            精度高抗干擾

            測試速度快

            擴展2KV偏置

            型號 QT-3107
            產(chǎn)品優(yōu)勢 采用數(shù)字電橋,抗干擾能力強,測試精度高;
            測試時間比模擬電橋快2-3倍;
            偏置電壓最高2KV;
            主要特點 測試分辨率1fF;
            自帶±100V偏置源;
            測試頻率:1MHz,擴展2MHz;
            輸出幅度:0.025-2V;




            Testing standards檢測標準
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