QT-8400功率器件多Site測試系統(tǒng)
            探索第三代電晶體的無限可能

            測試主機(jī)

            GaN

            Power Device

            QT-8400由測試主機(jī)與測試站Test Kit組成,
            其中Test Kit分為兩種: Power Device Test Kit & GaN Test Kit。

            Test Kit
            可根據(jù)需求進(jìn)行選擇
            • Power Device Test Kit

              面向MOSFET/SIC、二極體、三極管等CP測試需求的 Power Device Test Kit.

            • GaN Test Kit

              面向氮化鎵測試需求的 GaN Test Kit.

            105cm
            站姿鍵盤高度
            75cm
            坐姿鍵盤高度
            創(chuàng)新標(biāo)識設(shè)計
            站坐快速切換
            觸動人心的
            用戶體驗
            8400主機(jī)殼從人體工學(xué)設(shè)計出發(fā)針對設(shè)計公司、實驗室和封測廠等不同環(huán)境場所,滿足了用戶站姿與坐姿不同狀態(tài)下的鍵盤操作使用需求,我們設(shè)計了獨(dú)有的指引標(biāo)識線,能讓用戶快速的找到站立或坐姿時推薦的鍵盤高度,也可根據(jù)個人身高差異自行微調(diào),極大提升了操作舒適性和效率。

            * 已申請專利

            創(chuàng)新標(biāo)識設(shè)計
            站坐快速切換
            觸動人心的
            使用者體驗
            8400主機(jī)殼從人體工學(xué)設(shè)計出發(fā)針對設(shè)計公司、實驗室和封測廠等不同環(huán)境場所,滿足了用戶站姿與坐姿不同狀態(tài)下的鍵盤操作使用需求,我們設(shè)計了獨(dú)有的指引標(biāo)識線,能讓用戶快速的找到站立或坐姿時推薦的鍵盤高度,也可根據(jù)個人身高差異自行微調(diào),極大提升了操作舒適性和效率。

            * 已申請專利

            105cm
            站姿鍵盤高度
            75cm
            坐姿鍵盤高度
            並行測試,效率倍增
            支持2/4/8/16 Site並行測試,滿足客戶對更高測試效率的需求。
            測試需求,全方位覆蓋
            QT-8400整機(jī)提供20A/100A、1KV/2KV的技術(shù)指標(biāo),能夠滿足大多數(shù)第三代電晶體的測試需求。 如果客戶有更高規(guī)格的需求,我們還支持?jǐn)U展高壓/直流模組,最高可達(dá)8KV,2000A。 對於有動態(tài)測試需求的用戶,我們還提供雪崩、RGCG,動態(tài)RDson等模組的擴(kuò)展,並計畫未來相容更多的動態(tài)測試模組。

            QT-8400 GaN

            QT-8400 D

            測試範(fàn)圍

            專用於氮化鎵動靜態(tài)電參數(shù)測試

            測試範(fàn)圍

            專用於 MOSFET/SIC 、二極體、三極管、IGBT等 CP測試。

            參數(shù)指標(biāo)

            懸浮 V/I 源
            電壓 1KV/2KV
            20-100A;

            參數(shù)指標(biāo)

            懸浮 V/I 源
            電壓1KV/2KV/3KV
            20-100A/200A

            平行測試數(shù)

            2/4/8/16 Site

            平行測試數(shù)

            2/4/8/16 Site

            可擴(kuò)充動態(tài)模組

            LCR測試模組(CG)
            動態(tài) RDSON 模組(支援硬切和軟切)

            可擴(kuò)充動態(tài)模組

            雪崩測試模組(UIS、EAS)
            LCR測試模組(RG、CG)

            可擴(kuò)充高壓/直流模組

            最高可擴(kuò)展8KV, 2KA

            可擴(kuò)充高壓/直流模組

            最高可擴(kuò)展8KV, 2KA

            精準(zhǔn)測量

            Power Device Test Kit內(nèi)建精密測量電路,實現(xiàn)nA級和mΩ級的精準(zhǔn)測量。

            精準(zhǔn)測量

            GaN Test Kit內(nèi)建精密測量電路,實現(xiàn)nA級和mΩ級的精準(zhǔn)測量。

            闆卡資源靈活搭配
            我們的設(shè)備採用可插拔式闆卡架構(gòu),讓您可以根據(jù)需求靈活搭配闆卡,從而實現(xiàn)精準(zhǔn)把控測試成本。
            功能全面,滿足各類需求
            測試主機(jī)闆卡均為四象限V/I源,配備AWG及示波器,功能全面,滿足如 I-V 曲線等各類掃描測試需求。

            內(nèi)建示波器圖

            AWG編輯器
            PTS OS 直覺易用,
            專為測試&生產(chǎn)而設(shè)計
            我們對 QT-8400 PTS OS 軟體介面全面優(yōu)化,以提升實用性、美觀性和易用性。 大幅提高測試開發(fā)、生產(chǎn)以及調(diào)試校準(zhǔn)效率,使用戶輕鬆上手高效操作。

            * 已申請專利

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